開放包容 交流分享 | lewin樂玩微Technical Day-Verfication&Validation專場
2025-02-21
近日，lewin樂玩微電子的研發(fā)團隊成功舉辦了一場聚焦DV&Emu-Vx專題的Technical Day盛會，旨在深入探索并顯著提升驗證與測試領域的質量與效率，為芯片研發(fā)工作保駕護航。
活動中，研發(fā)團隊的精英們積極互動，圍繞構建高效、健全的防控體系和方法論展開了熱烈而富有成效的討論，并紛紛登臺，分享了他們在各自領域的最新研究成果。具體涵蓋以下幾個核心技術和平臺：
?1. YBench基礎公共驗證平臺?：該平臺以其最新的功能特性和在驗證實踐中的卓越表現(xiàn)，贏得了廣泛關注。分享者詳細闡述了其最新功能，并深入剖析了其在提升驗證效率與準確性方面的獨特優(yōu)勢。
?2. Validation測試框架的平臺化設計?：分享者以獨到的視角，揭示了Validation測試框架平臺設計的精髓所在。他們探討了如何通過平臺化的策略，實現(xiàn)測試效率的大幅提升，同時增強測試的可復用性和可擴展性，為測試工作注入了新的活力。
?3. 芯片開發(fā)早期快速驗證方法學?：結合實際項目案例，分享者們生動展示了芯片開發(fā)早期快速驗證方法學在驗證與測試領域的廣泛應用和顯著成效。他們通過具體的數(shù)據(jù)和實例，充分證明了這些方法在提升測試效率、準確性和可靠性方面的巨大潛力。
?4. 后仿與FPGA平臺設計的深度探討?：此外，活動還就后仿、FPGA平臺設計等前沿議題進行了深入的探討和交流。與會者們紛紛發(fā)表了自己的見解和看法，為這些領域的發(fā)展貢獻了新的思路和方向。
本次活動最終評選出了三名優(yōu)秀主講人，分別獲得一等獎、二等獎和三等獎。
此次Technical Day活動不僅極大地促進了研發(fā)團隊內部的技術交流與合作，更為公司未來的芯片研發(fā)質量保障工作提供了寶貴的經(jīng)驗和啟示。通過這一系列精彩紛呈的分享與討論，lewin樂玩微的研發(fā)團隊將更加自信地面對復雜的驗證與測試挑戰(zhàn)，不斷攀登芯片研發(fā)的新高峰。
